水平管降膜厚度的电导探针测量方法

侯昊;毕勤成;马红

PDF(651 KB)
PDF(651 KB)
沈阳工业大学学报 ›› 2011, Vol. 33 ›› Issue (4) : 476-480.
化学工程

水平管降膜厚度的电导探针测量方法

    {{javascript:window.custom_author_cn_index=0;}}
  • {{article.zuoZhe_CN}}
作者信息 +

Conductance probe measurement method for falling film thickness around horizontal tube

    {{javascript:window.custom_author_en_index=0;}}
  • {{article.zuoZhe_EN}}
Author information +
History +

本文亮点

{{article.keyPoints_cn}}

HeighLight

{{article.keyPoints_en}}

摘要

{{article.zhaiyao_cn}}

Abstract

{{article.zhaiyao_en}}

关键词

Key words

本文二维码

引用本文

导出引用
{{article.zuoZheCn_L}}. {{article.title_cn}}. {{journal.qiKanMingCheng_CN}}. 2011, 33(4): 476-480
{{article.zuoZheEn_L}}. {{article.title_en}}. {{journal.qiKanMingCheng_EN}}. 2011, 33(4): 476-480

参考文献

参考文献

{{article.reference}}

基金

版权

{{article.copyrightStatement_cn}}
{{article.copyrightLicense_cn}}
PDF(651 KB)

Accesses

Citation

Detail

段落导航
相关文章

/